DM2300型 X熒光分析儀

DM2300型 X熒光分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

專門針對(duì)RoHS/ELV/玩具/包裝/首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測(cè)量
能同時(shí)測(cè)量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素

DM2300型X熒光分析儀（或稱X熒光光譜儀），儀器采用了能量色散X射線熒光分析技術(shù)，能分析從鋁（原子序數(shù)13）到鈾（原子序數(shù)92）的所有元素，對(duì)大多數(shù)元素分析的含量可低至1ppm高至，還能進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。具有分析速度快、精度高、人為誤差小、操作簡(jiǎn)便、只需一次性投資、無污染等特點(diǎn)，故廣泛應(yīng)用于電子電氣、建材、冶金、石油、化工、地質(zhì)、礦山等各行各業(yè)。

主要技術(shù)指標(biāo)
1. 分析元素種類：Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等。
2. 有害元素及鹵素含量分析范圍： 5～3000ppm。
3. 系統(tǒng)分析時(shí)間： 300s （典型值）。
4. 分析精度：理想狀態(tài)下，測(cè)量精度為2～3ppm；
　　　　　　　一般狀態(tài)下，測(cè)量相對(duì)誤差為10%。
5. 檢出限： ≤2 ppm。
6. X射線光管： 高壓：≤50kV， 電流：≤1mA，均連續(xù)可調(diào)。
7. 準(zhǔn)直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4個(gè)可自動(dòng)切換。
8. 系統(tǒng)能量分辯率： 對(duì)于MnK5.9keV的X射線，其半高寬：≤155 eV。
9. 長時(shí)間穩(wěn)定性： 開機(jī)1小時(shí)后，整機(jī)8小時(shí)穩(wěn)定性：峰位和峰面積相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差均小于0.1%。
10. 樣品室體積： 長×寬×高：480 mm×350 mm×125mm。
11. 使用條件： 環(huán)境濕度：5～30℃，相對(duì)濕度≤80%（25℃），供電電源：220±20V，50Hz。
12. 整機(jī)功耗： ≤150W。
13. 尺寸與重量： 長×寬×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。

儀器特點(diǎn)：
1. 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接觸、不破壞樣品，無需化學(xué)試劑等其他輔助材料。
2. 多元素同時(shí)快速分析，一般幾分鐘給出Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等元素的ppm含量結(jié)果。
3. 采用X光管激發(fā)，光管高壓的電壓和電流可調(diào)，使儀器達(dá)到zui高的激發(fā)效率和*的計(jì)數(shù)率。。
4. 具有4個(gè)濾色片和4個(gè)準(zhǔn)直器，可任意自動(dòng)轉(zhuǎn)換組合，使儀器達(dá)到*的計(jì)數(shù)率和zui高的峰背比，從而有*的精度和很小的檢出限。
5. 采用高分辨率的PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，有效避免元素的相互干擾。
6. 采用高分辨率的CCD攝像頭，樣品平臺(tái)可移動(dòng)，從而保證測(cè)量目標(biāo)位置的準(zhǔn)確。
7. 由計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示、操作和數(shù)據(jù)處理，從而使操作簡(jiǎn)便，分析快速準(zhǔn)確。
8. 儀器集成化程度高，可靠性好，維修方便。環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)，穩(wěn)定性好。
9. 采用內(nèi)標(biāo)方法及具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的分譜技術(shù)，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析樣品。
10. 樣品室體積大，能測(cè)量大件物品。
11. 價(jià)格功能比低，適合我國國情。
12. 設(shè)計(jì)對(duì)屏蔽防護(hù)*，無三廢公害，射線防護(hù)安全可靠。

重量： 長×寬×高:560×470×150mm;重量:23Kg。

span>≤0.09%，∣△Fe2O3%∣≤0.10%。
7．使用條件： 環(huán)境溫度：5~40℃，相對(duì)濕度：≤85%（30℃），供電電源：220V±20V， 50Hz。
8．整機(jī)功耗： ≤50W。
9．尺寸及重量： 470mm×365mm×130mm，15kg。