與RAM DA 2000多用途輻射測(cè)量?jī)x配套的外接探頭

1、PA-100 α表面污染檢測(cè)儀

探測(cè)器類(lèi)型： 正比計(jì)數(shù)器

有效面積：   100cm²

窗    厚：   0.85mg/ cm²鋁膜

探測(cè)效率：   18%（²⁴¹Am）（2π）

表面靈敏度： 530cpm/Bq/ cm²*

精確度：     讀數(shù)的±15%（²⁴¹Am）

大計(jì)數(shù)率： 3×10⁶cpm

輸出信號(hào)：   TTL脈沖：探頭情形：ID，正常，故障

尺    寸：   240mm×75mm×55mm

外    殼：   鋁，防濺

2、PM-10高效閃爍χ、γ輻射探頭

探測(cè)射線：  低能χ、γ，10Kev～80Kev

閃 爍 體：  NaI（TI）φ2＂×0.04＂，窗厚1mil

（0.001＂）鋁膜

能量校正：  SCA測(cè)量范圍內(nèi)±5Kev（?。?/span>

計(jì)數(shù)率范圍：0～50000cps

輸出信號(hào)：  TTL脈沖；探頭情形；ID，正常，故障，溢出

尺    寸：  290mm×70mm

外    殼：  鋁，防濺

3、PM-11閃爍γ輻射探頭

探測(cè)射線：  超過(guò)50Kev的γ射線

閃 爍 體：  NaI（TI）φ2＂×2＂，窗厚1mm。（0.04＂）鋁

能量刻度：  能量范圍內(nèi)可選廠家刻度的單道分析器（SCA）

計(jì)數(shù)率范圍：0～50.000cps

輸出信號(hào)：  TTL脈沖；探頭情形；ID，正常，故障，溢出

尺    寸：  340mm長(zhǎng)，70mm寬

外    殼：  鋁，防濺

4、IC—10A電離室χ、γ探頭

測(cè)量范圍：  1μSv/h～250mSv/h(0.1mR/h～25R/h)

顯示范圍：  1μSv/h～250mSv/h(0.1mR/h～25R/h)

靈敏度：  0.1μSv/h～250mSv/h(0.01mR/h～25R/h)

精 確 度： 測(cè)量范圍內(nèi)讀數(shù)的±15%

能量相關(guān)： ≤±20%在20Kev～1.2MeV范圍（¹³⁷Cs）

角度相關(guān)： 小于±5%（探頭前方±120⁰，¹³⁷Cs）

電離室體積： 500cc

電離室厚度： 壁和蓋300mg/cm²，  端窗厚度7mg/ cm²

響應(yīng)時(shí)間：    

范     圍                 時(shí)  間              量   程

1μSv/h～10μSv/h           12s                 低               

10μSv/h～100μSv/h         8s                  低

100μSv/h～ 2mSv/h          4s                  低         

0.1mSv/h ～220mSv/h         2s                  高

輸入信號(hào)： 補(bǔ)償操作控制，高低量程控制

輸出信號(hào)： TTL脈沖，探頭情形；ID，電離室電壓故障

尺    寸： 電離室 φ 8.9cm × 11.7cm

手柄φ5.2cm  ×  14.3cm

電 離 室： 聚丙烯塑料 手 柄：鋁，防濺 電纜大長(zhǎng)度：10米